Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
-
- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
- eBook
-
Sprache:Englisch
97,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
04.09.2018
Abbildungen
V, 93 p. 34 illus., 11 illus. in color.
Verlag
SpringerSeitenzahl
93
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/0,6 cm
Gewicht
184 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-88819-4
This book provides readers with a comprehensive overview of the state-of-the-art in optical contactless probing approaches, in order to fill a gap in the literature on VLSI Testing. The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing. The techniques described in this book address the increasing demands for internal access of the logic state of a node within a chip under test.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice