Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
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Form:Einzelkauf Download
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Sprache:Englisch
96,29 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
16.11.2017
Verlag
SpringerSeitenzahl
93 (Printausgabe)
Dateigröße
2476 KB
Auflage
1st ed. 2018
Sprache
Englisch
EAN
9783319696737
Provides a single-source reference on contactless probing approaches for VLSI testing and diagnostic measurement
Introduces readers to various optical contactless testing techniques, such as Electro-Optic Probing, Charge Density Probe, and Photo-emissive Probe
Discusses the applicability and adaptability of each technique, based on multilayer metallization, wafer level techniques, and invasiveness
Provides a comparison among various contactless testing techniques
Describes a variety of industrial applications of contactless VLSI testing
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