Jürgen Beyerer

OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

Mitarbeit:Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

• Broschiertes Buch

Produktbeschreibung

Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.

Produktdetails

• Verlag: KIT Scientific Publishing
• Seitenzahl: 298
• Erscheinungstermin: 24. März 2015
• Deutsch, Englisch
• Abmessung: 210mm x 148mm x 19mm
• Gewicht: 480g
• ISBN-13: 9783731503187
• ISBN-10: 3731503182
• Artikelnr.: 42505422

Autorenporträt

Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León lehrt und forscht seit 2008 am Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT). Nach Studium und Promotion arbeitete er bei der Firma DS2 im Bereich der Modem-Entwicklung. Von 2003 bis 2008 war er als Professor für Verteilte Messsysteme an der Technischen Universität München tätig. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Bild- und Signalverarbeitung, der Mess- und Automatisierungstechnik, der Informationsfusion, der Mustererkennung sowie der Architektur und Analyse verteilter Systeme.