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Dopants and Defects in Semiconductors

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.03.2021

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2 cm

Gewicht

690 g

Auflage

2. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-367-78143-9

Beschreibung

Rezension

"The second edition of this textbook lays the groundwork for both the classical and modern developments in the theory of semiconductors. This book is significant both for its presentation of the basic principles of the theory of defects in semiconductors and for its exposition of recent developments in the field, such as LEDs and laser diodes."

--Christian Brosseau, OSA Fellow and professor of physics, Université de Bretagne Occidentale, Brest, France

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Erscheinungsdatum

31.03.2021

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

372

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2 cm

Gewicht

690 g

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Englisch

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  • 1. Semiconductor Basics 2. Defect Classifications 3. Interfaces and Devices 4. Crystal Growth and Doping 5. Electronic Properties 6. Vibrational Properties 7. Optical Properties 8. Thermal Properties 9. Electrical Measurements 10. Optical Spectroscopy 11. Particle-Beam Methods 12. Microscopy and Structural Characterization