Suchergebnisse für ""José Pineda de Gyvez""

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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Gebundenes Buch
Repr. d. Ausg. v. 1992
31. Dezember 1992
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-0-7923-9306-1
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (eBook, PDF)
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José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (eBook, PDF)
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27. November 2013
Springer New York
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters (eBook, PDF)
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters (eBook, PDF)
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29. Oktober 2010
Springer-Verlag GmbH
Auch erhältlich als
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
213,99 €
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (eBook, PDF)
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eBook, PDF
4. Juni 2007
Springer US
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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José Pineda de Gyvez
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
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Broschiertes Buch
Softcover reprint of the original 1st ed. 1993
23. Februar 2014
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4613-6383-5
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Broschiertes Buch
Design, Test and Calibration
Softcover reprint of the original 1st ed. 2011
23. August 2016
Springer / Springer Netherlands
978-94-024-0530-9
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Amir Zjajo
José Pineda de Gyvez
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
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Gebundenes Buch
Design, Test and Calibration
2011
5. November 2010
Springer / Springer Netherlands
80017499,978-90-481-9724-8
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
154,99 €
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Broschiertes Buch
2nd ed.
10. November 2010
Springer / Springer US / Springer, Berlin
978-1-4419-4285-2
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Manoj Sachdev
José Pineda de Gyvez
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Gebundenes Buch
2nd ed.
21. Juni 2007
Springer / Springer US / Springer, Berlin
11378808,978-0-387-46546-3


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