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Self-Trapped Excitons discusses the structure and evolution of the self-trapped exciton (STE) in a wide range of materials. It includes a comprehensive review of experiments and extensive tables of data. Emphasis is given throughout to the unity of the basic physics underlying various manifestations of self-trapping, with the theory being developed from a localized, atomistic perspective. The topics treated in detail in relation to STE relaxation include spontaneous symmetry breaking, lattice defect formation, radiation damage, and electronic sputtering.
- Geräte: PC
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- Größe: 38.74MB
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- Produktdetails
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- Seitenzahl: 410
- Erscheinungstermin: 8. März 2013
- Englisch
- ISBN-13: 9783642852367
- Artikelnr.: 53237045
- Verlag: Springer Berlin Heidelberg
- Seitenzahl: 410
- Erscheinungstermin: 8. März 2013
- Englisch
- ISBN-13: 9783642852367
- Artikelnr.: 53237045