Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces (eBook, ePUB)

Redaktion: Cherepin, V. T.

• Format: ePub

Produktbeschreibung

This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces. It describes modern models of secondary ion formation and the factors influencing sensitivity of measurements and the range of applications.

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Produktdetails

• Verlag: Taylor & Francis
• Seitenzahl: 138
• Erscheinungstermin: 28. April 2020
• Englisch
• ISBN-13: 9781000083132
• Artikelnr.: 59343024