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El reconocimiento de huellas palmares se ha investigado durante los últimos diez años. Durante este periodo se han abordado diferentes problemas. Los pliegues de flexión se denominan líneas principales y los pliegues secundarios, arrugas. Las crestas presentes en las palmas son únicas y persistentes. La región palmar consta de más puntos característicos que las huellas dactilares, por lo que se considera más distintiva que éstas. Para estos sistemas, la resolución estándar de captura en los sistemas que utilizan las características de las crestas para la identificación es de 500 PPI. Los…mehr

Produktbeschreibung
El reconocimiento de huellas palmares se ha investigado durante los últimos diez años. Durante este periodo se han abordado diferentes problemas. Los pliegues de flexión se denominan líneas principales y los pliegues secundarios, arrugas. Las crestas presentes en las palmas son únicas y persistentes. La región palmar consta de más puntos característicos que las huellas dactilares, por lo que se considera más distintiva que éstas. Para estos sistemas, la resolución estándar de captura en los sistemas que utilizan las características de las crestas para la identificación es de 500 PPI. Los sistemas existentes de comparación de huellas palmares se basaban en imágenes de baja resolución (100ppi). Además de las imágenes de huellas palmares de alta resolución, también se debe admitir el cotejo de huellas palmares parciales a completas. Las huellas palmares parciales recuperadas de las impresiones palmares en el lugar del delito se denominan huellas palmares latentes y, a efectos de prueba, se generan a partir de huellas palmares completas de alta resolución escaneadas en vivo recortándolas en diferentes regiones/segmentos. Estas últimas también se denominan impresiones palmares parciales pseudo latentes o impresiones palmares parciales latentes sintéticas, dependiendo de si se añaden o no ruidos/degradaciones, respectivamente.
Autorenporträt
Dr. G. Karthick promovierte 2017 in I&C Engineering an der Anna University Chennai. Er erwarb seinen PG-Abschluss in Angewandter Elektronik am Department of ECE, Bannari Amman Institute of Technology Sathyamangalam. Derzeit arbeitet er als Associate Professor ECE Abteilung in Jyothismathi Institute of Technology & Science, Karimnagar.