Studio dei metodi di instradamento in uno scenario VLSI a bassa potenza
Un contributo provato per i circuiti integrati
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La crescente domanda di nuove applicazioni e di dispositivi compatti ha portato allo sviluppo di nuove tecnologie a livello di integrazione. L'integrazione su larghissima scala (VLSI) ha offerto il vantaggio di integrare applicazioni a grande densità in una piattaforma compatta, raggiungendo l'obiettivo di ottenere applicazioni di fascia alta su un'unica piattaforma. Con l'aumento dello sviluppo della densità di integrazione, questa tecnologia si è evoluta verso la progettazione su scala nanometrica, che rappresenta un salto significativo nel dominio VLSI. Con il raggiungimento di una grand...
La crescente domanda di nuove applicazioni e di dispositivi compatti ha portato allo sviluppo di nuove tecnologie a livello di integrazione. L'integrazione su larghissima scala (VLSI) ha offerto il vantaggio di integrare applicazioni a grande densità in una piattaforma compatta, raggiungendo l'obiettivo di ottenere applicazioni di fascia alta su un'unica piattaforma. Con l'aumento dello sviluppo della densità di integrazione, questa tecnologia si è evoluta verso la progettazione su scala nanometrica, che rappresenta un salto significativo nel dominio VLSI. Con il raggiungimento di una grande densità di integrazione, aumentano anche i vincoli di potenza, velocità e throughput. Con l'aumento della densità dei transistor, aumenta anche il consumo di energia. Questo è un collo di bottiglia per la progettazione VLSI di applicazioni critiche. Di conseguenza, la necessità di ridurre il consumo di energia è uno degli obiettivi principali nell'ambiente di progettazione VLSI. L'ottimizzazione della potenza è sviluppata attraverso molteplici mezzi, in cui i ricercatori hanno ottenuto risultati con vari approcci a livello di composizione o di integrazione per ridurre la dissipazione di potenza. L'utilizzo della potenza di elaborazione è considerato un consumo utile, ma vengono studiate anche le perdite di potenza dovute alle perdite IR e alle interferenze elettromagnetiche (EMI).
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