Richard O. Duda, Peter E. Hart, David G. Stork

Pattern Classification

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Produktbeschreibung

Unter Musterklassifikation versteht man die Zuordnung eines physikalischen Objektes zu einer von mehreren vordefinierten Kategorien. Auf dieser Grundlage können Computer Muster erkennen. Das Interesse an diesem Forschungsgebiet hat in den letzten Jahren, besonders im Zuge der Weiterentwicklung neuronaler Netze, stark zugenommen. Die umfassend überarbeitete, erweiterte und jetzt zweifarbig gestaltete Neuauflage beschreibt alle wesentlichen Aspekte der Mustererkennung systematisch und verständlich. Mit Lösungsheft! (01/00)

Produktdetails

• Verlag: Wiley & Sons
• 2nd ed.
• Seitenzahl: 688
• Erscheinungstermin: 9. November 2000
• Englisch
• Abmessung: 261mm x 184mm x 30mm
• Gewicht: 1256g
• ISBN-13: 9780471056690
• ISBN-10: 0471056693
• Artikelnr.: 09371917

Autorenporträt

RICHARD O. DUDA, PhD, is Professor in the Electrical Engineering Department at San Jose State University, San Jose, California. PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California. DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc.

Inhaltsangabe

Bayesian Decision Theory. Maximum-Likelihood and Bayesian Parameter
Estimation. Nonparametric Techniques. Linear Discriminant Functions.
Multilayer Neural Networks. Stochastic Methods. Nonmetric Methods.
Algorithm-Independent Machine Learning. Unsupervised Learning and
Clustering. Appendix. Index.