Patent- und Gebrauchsmusterverletzung - Hahn, Tobias; Richter, Stefan
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Produktdetails
  • Schriftenreihe der Hagen Law School
  • Verlag: BWV - Berliner Wissenschafts-Verlag
  • 3., überarb. Aufl.
  • Seitenzahl: 123
  • Erscheinungstermin: 30. Juni 2014
  • Deutsch
  • Abmessung: 210mm x 149mm x 6mm
  • Gewicht: 176g
  • ISBN-13: 9783830533573
  • ISBN-10: 3830533578
  • Artikelnr.: 40973720
Autorenporträt
Tobias Hahn obtained his doctorate at the Chair of Information and Communication Management at the Technische Universität Berlin. He currently works in the division of business transformation for a leading integrated telecommunications group.