Indexation du modèle de diffraction
Tania Campos
Broschiertes Buch

Indexation du modèle de diffraction

Un modèle d'identification automatique par traitement d'images

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Cet article présente le modèle conçu pour l'analyse des images contenant des motifs de diffraction, ainsi que le logiciel développé pour effectuer des mesures d'angles et de distances entre différents points caractéristiques (signaux) inclus dans les motifs étudiés par les chercheurs du Centre de recherche sur les matériaux avancés (CIMAV). La raison principale du développement de ce système est que les chercheurs doivent effectuer manuellement le processus d'analyse et d'indexation des modèles de diffraction, une tâche qui devient fastidieuse et sujette à l'erreur humaine. C'e...