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Após um estudo de fonte de métodos históricos de limpeza de superfície de tinta a óleo, substâncias e materiais, o desenvolvimento de investigações de superfície é mostrado. Especial ênfase é colocada em exames com o microscópio eletrônico de varredura, o microscópio eletrônico de varredura de baixa pressão, a profilometria laser e o método de projeção de faixa 3D baseado em microespelhos. Este último, um sistema de medição óptica no domínio da microelectrónica e da dermatologia, foi adaptado para efeitos de conservação e restauro. Pela primeira vez, as alterações na superfície da cor causadas…mehr

Produktbeschreibung
Após um estudo de fonte de métodos históricos de limpeza de superfície de tinta a óleo, substâncias e materiais, o desenvolvimento de investigações de superfície é mostrado. Especial ênfase é colocada em exames com o microscópio eletrônico de varredura, o microscópio eletrônico de varredura de baixa pressão, a profilometria laser e o método de projeção de faixa 3D baseado em microespelhos. Este último, um sistema de medição óptica no domínio da microelectrónica e da dermatologia, foi adaptado para efeitos de conservação e restauro. Pela primeira vez, as alterações na superfície da cor causadas pelo tratamento podem ser medidas e quantificadas. As cores acrílicas mostram os limites do método de projecção de bandas 3D devido à tecnologia dos materiais. Diferentes substâncias são documentadas em seus efeitos sobre as tintas a óleo históricas, óleo contemporâneo, óleo/resina e tintas acrílicas. São formulados procedimentos para a análise do tempo e do custo eficiente dos processos de trabalho, métodos e materiais. A limpeza da superfície por feixes de laser é discutida.
Autorenporträt
Paul-Bernhard Eipper arbeitet seit Studium und Promotion für verschiedene Museen und ist Leiter des Referats Restaurierung am Universalmuseum Joanneum. Er unterrichtet an der Karl-Franzens-Universität, Graz und an der Akademie für bildende Künste und Design, Bratislava. Er ist Herausgeber des Handbuchs für Oberflächenreinigung und Fellow of IIC.