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Face à la complexité des systèmes de production, l'apparition accrue des défauts est devenue presque inévitable. La littérature propose divers méthodes et outils de détection de défauts. Les techniques de supervision renseignent sur la mise en oeuvre de la synthèse de commande des systèmes à évènements discrets, mais ne font pas fi de la détection de défauts. Nous associons les deux concepts pour l'implémentation d'un système de surveillance. La synthèse de la commande par Grafcet a permis d'obtenir un modèle Grafcet de comportement commun auquel nous avons appliqué le principe de l'algorithme…mehr

Produktbeschreibung
Face à la complexité des systèmes de production, l'apparition accrue des défauts est devenue presque inévitable. La littérature propose divers méthodes et outils de détection de défauts. Les techniques de supervision renseignent sur la mise en oeuvre de la synthèse de commande des systèmes à évènements discrets, mais ne font pas fi de la détection de défauts. Nous associons les deux concepts pour l'implémentation d'un système de surveillance. La synthèse de la commande par Grafcet a permis d'obtenir un modèle Grafcet de comportement commun auquel nous avons appliqué le principe de l'algorithme de Kumar pour obtenir un superviseur. Nous avons recensé les différents défauts répertoriés dans une liste partitionnée et établi un tableau de défauts regroupant tous les défauts recensés. Telle est la base de notre algorithme de détection de défauts, exécuté à partir du modèle Grafcet du superviseur. Nous avons procédé à une implémentation dudit algorithme en C/C++ et l'avons simulé sur une console de Windows.
Autorenporträt
Julienne Francine Ngo Bihai, diplômée du premier cycle en informatique industrielle, titulaire d'un Master recherche en informatique, électronique et automatiquese à l'Université de Ngaoundéré où elle poursuit des travaux de recherche au LESIA.