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La diffrazione dei raggi X è una tecnica non distruttiva molto potente per caratterizzare i materiali cristallini. Fornisce informazioni su strutture, fasi, orientamenti cristallini preferiti e altri parametri strutturali, come la dimensione media dei grani, la cristallinità, la deformazione e i difetti cristallini. I picchi di diffrazione dei raggi X sono causati dall'interferenza costruttiva di un fascio monocromatico di raggi X diffusi con angoli particolari da ciascuna serie di piani reticolari di un campione. L'intensità dei picchi è osservata dalla distribuzione degli atomi all'interno del reticolo. Di conseguenza, il modello di diffrazione dei raggi X è l'impronta digitale della disposizione periodica degli atomi in un determinato materiale. Questa rassegna riassume le tendenze scientifiche legate al rapido sviluppo della tecnica della diffrazione dei raggi X negli ultimi cinque anni nei settori della farmaceutica, delle scienze forensi, delle applicazioni geologiche, della produzione del vetro, dell'ingegneria civile e dell'analisi della corrosione.