-23%
89,95 €
Statt 116,99 €**
89,95 €
inkl. MwSt.
**Preis der gedruckten Ausgabe (Gebundenes Buch)
Sofort per Download lieferbar
45 °P sammeln
-23%
89,95 €
Statt 116,99 €**
89,95 €
inkl. MwSt.
**Preis der gedruckten Ausgabe (Gebundenes Buch)
Sofort per Download lieferbar

Alle Infos zum eBook verschenken
45 °P sammeln
Als Download kaufen
Statt 116,99 €**
-23%
89,95 €
inkl. MwSt.
**Preis der gedruckten Ausgabe (Gebundenes Buch)
Sofort per Download lieferbar
45 °P sammeln
Jetzt verschenken
Statt 116,99 €**
-23%
89,95 €
inkl. MwSt.
**Preis der gedruckten Ausgabe (Gebundenes Buch)
Sofort per Download lieferbar

Alle Infos zum eBook verschenken
45 °P sammeln
  • Format: PDF


Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

  • Geräte: PC
  • ohne Kopierschutz
  • eBook Hilfe
  • Größe: 105.88MB
Produktbeschreibung
Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.

Dieser Download kann aus rechtlichen Gründen nur mit Rechnungsadresse in A, B, BG, CY, CZ, D, DK, EW, E, FIN, F, GR, HR, H, IRL, I, LT, L, LR, M, NL, PL, P, R, S, SLO, SK ausgeliefert werden.

  • Produktdetails
  • Verlag: Springer-Verlag GmbH
  • Seitenzahl: 357
  • Erscheinungstermin: 18. Mai 2006
  • Englisch
  • ISBN-13: 9780387233130
  • Artikelnr.: 37288183
Autorenporträt
Lucille A. Giannuzzi, FEI Company, Hillsboro, OR, USA / Fred A. Stevie, North Carolina State University, Raleigh, NC, USA
Inhaltsangabe
The Focused Ion Beam Instrument.- Ion - Solid Interactions.- Focused Ion Beam Gases for Deposition and Enhanced Etch.- Three-Dimensional Nanofabrication Using Focused Ion Beams.- Device Edits and Modifications.- The Uses of Dual Beam FIB in Microelectronic Failure Analysis.- High Resolution Live Imaging of FIB Milling Processes for Optimum Accuracy.- FIB for Materials Science Applications - a Review.- Practical Aspects of FIB Tem Specimen Preparation.- FIB Lift-Out Specimen Preparation Techniques.- A FIB Micro-Sampling Technique and a Site Specific TEM Specimen Preparation Method.- Dual-Beam (FIB-SEM) Systems.- Focused Ion Beam Secondary Ion Mass Spectrometry (FIB-SIMS).- Quantitative Three-Dimensional Analysis Using Focused Ion Beam Microscopy.- Application of FIB in Combination with Auger Electron Spectroscopy.