Electronic Systems - Mourad, Samiha;Zorian, Yervant
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Digitale Testverfahren spielen eine entscheidende Rolle in elektronischen Systemen, zum Beispiel als eingebaute Prüfroutinen in intergrierten Schaltkreisen. Dieses Buch bietet einen anschaulichen, wenig theorielastigen Einstieg in das Gebiet. Nützlich ist dabei auch eine sorgfältig recherchierte Liste weiterführender Literatur. (spring 00)
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als
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Produktbeschreibung
Digitale Testverfahren spielen eine entscheidende Rolle in elektronischen Systemen, zum Beispiel als eingebaute Prüfroutinen in intergrierten Schaltkreisen. Dieses Buch bietet einen anschaulichen, wenig theorielastigen Einstieg in das Gebiet. Nützlich ist dabei auch eine sorgfältig recherchierte Liste weiterführender Literatur. (spring 00)
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar. (07/00)
  • Produktdetails
  • Verlag: Wiley & Sons; Wiley-Interscience
  • Seitenzahl: 444
  • Erscheinungstermin: 11. Juli 2000
  • Englisch
  • Abmessung: 240mm x 161mm x 28mm
  • Gewicht: 740g
  • ISBN-13: 9780471319313
  • ISBN-10: 0471319317
  • Artikelnr.: 09454388
Autorenporträt
SAMIHA MOURAD, PhD, is Professor of Electrical Engineering at Santa Clara University, Santa Clara, California. YERVANT ZORIAN, PhD, is Chief Technology Advisor at Logic Vision, Inc., San Jose, California.
Inhaltsangabe
DESIGN AND TEST.Overview of Testing.Defects, Failures, and Faults.Design Representation.VLSI Design Flow.TEST FLOW.Role of Simulation in Testing.Automatic Test Pattern Generation.Current Testing.DESIGN FOR TESTABILITY.Ad Hoc Test Techniques.Scan-Path Design.Boundary-Scan Testing.Built-in Self-Test.SPECIAL STRUCTURES.Memory Testing.Testing FPGAs and Microprocessors.ADVANCED TOPICS.Synthesis for Testability.Testing SOCs.Appendices.Index.
Rezensionen
"Highly recommended for libraries serving undergraduate and graduate electrical engineering students and professional practitioners." (Choice, Vol. 38, No. 7, March 2001)