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Produktbild: Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists

Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists

81,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2025

Abbildungen

schwarz-weiss Illustrationen, Raster,schwarz-weiss, Zeichnungen, schwarz-weiss, Tabellen, schwarz-weiss

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

288

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,6 cm

Gewicht

442 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-03-224680-2

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2025

Abbildungen

schwarz-weiss Illustrationen, Raster,schwarz-weiss, Zeichnungen, schwarz-weiss, Tabellen, schwarz-weiss

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

288

Maße (L/B/H)

23,4/15,6/1,6 cm

Gewicht

442 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-03-224680-2

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  • Produktbild: Fundamentals of Crystallography, Powder X-ray Diffraction, and Transmission Electron Microscopy for Materials Scientists
  • Part I: Introduction to Crystallography 1. Periodicity of Crystals and Bravais Lattices 2. Symmetry of Crystals, Point Groups and Space Groups 3. Reciprocal Lattice 4. Examples for Crystal Structure Representation Part Ii: X-ray Diffraction of Materials 5. Geometry of X-ray Diffraction 6. Intensity of Diffracted X-ray Beam 7. Experimental Methods and Powder X-ray Diffractometer 8. Rietveld Refinement of Powder X-ray Diffraction Patterns Part Iii: Transmission Electron Microscopy of Materials 9. Atomic Scattering Factors for Electrons and X-rays 10. Electron Diffraction in Transmission Electron Microscope 11. Diffraction Contrast 12. Phase Contrast