Analiza metryk projektowania obiektowego
-
- Polnisch ausgewählt
34,99 €
UVP
39,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
27.05.2025
Verlag
Wydawnictwo Nasza WiedzaSeitenzahl
56
Maße (L/B/H)
22/15/0,4 cm
Gewicht
102 g
Sprache
Polnisch
ISBN
978-620-7-83344-3
Pomiar to proces okreżlania wielkożci ilożciowej i jakożci produktu. W dziedzinie inżynierii oprogramowania metryki sż wykorzystywane do celów ilożciowych i jakożciowych. Analizujżc metryki, programista może skorygowä te obszary procesu tworzenia oprogramowania, które sż przyczynż wad oprogramowania lub awarii produktu. Metryki oprogramowania sż szeroko stosowane w branży oprogramowania do pomiaru zżożonożci, rozmiaru, modużowożci, testowalnożci, użytecznożci, niezawodnożci lub żatwożci konserwacji fragmentu kodu żródżowego. Zaproponowano wiele różnych metryk obiektowych do oceny projektu, jakożci, testowalnożci i żatwożci konserwacji systemu obiektowego. Różni badacze skupiajż siż na różnych wżäciwożciach systemu obiektowego, takich jak enkapsulacja, dziedziczenie, zżożonożż i polimorfizm. Projektowanie obiektowe staje siż coraz bardziej popularne w żrodowisku tworzenia oprogramowania, a metryki projektowania obiektowego sż istotnż czżżciż żrodowiska oprogramowania. Niniejsze badanie koncentruje siż na zestawie metryk obiektowych, które mogż byż wykorzystane do pomiaru jakożci projektu obiektowego, a także analizuje niektóre metryki CK przy użyciu narzżdzia Understand 2.6.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice