Electron Nano-imaging Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
03.08.2024
Abbildungen
XXX, 384 p. 142 illus., 13 illus. in color.
Verlag
Springer TokyoSeitenzahl
384
Maße (L/B/H)
24,1/16/2,7 cm
Gewicht
863 g
Auflage
Second Edition 2024
Sprache
Englisch
ISBN
978-4-431-56939-8
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