In-Situ Transmission Electron Microscopy
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
08.02.2024
Abbildungen
XIII, 371 p. 194 illus., 157 illus. in color.
Herausgeber
Litao Sun + weitereVerlag
Springer SingaporeSeitenzahl
371
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/2 cm
Gewicht
657 g
Auflage
24001 Auflage 1st edition 2023
Sprache
Englisch
ISBN
978-981-19-6847-1
This book focuses on in-situ transmission electron microscopy (TEM), an investigatory technique used to observe a sample’s response to a given stimulus (including electron irradiation, thermal excitation, mechanical force, optical excitation, electric and magnetic fields) at the nanoscale in real time. The book introduces readers to the technical strategy behind the in-situ technique and its developments. It reviews the research frontiers of using in-situ TEM in energy conversion and storage, catalysis, nanomaterials synthesis, nanoelectronics, etc. Furthermore, it discusses the future prospects for in-situ TEM. The book offers a valuable guide for all undergraduate and graduate students who are interested in TEM characterization technology. It also serves as a reference source on cutting-edge in-situ techniques for researchers and engineers.
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