Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE
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Sprache:Deutsch
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Auflage:3. Auflage
- 4. Auflage 2024 34,99 €
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
02.05.2023
Abbildungen
XIV, mit 225 Amit 15 Abbildungengen, 15 Abb. in Farbe.
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden GmbHSeitenzahl
217
Maße (L/B/H)
24/16,8/1,3 cm
Gewicht
400 g
Auflage
3. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-658-40956-2
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.
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