Fundamentos de Topografia Procesos Metodológicos de Planimetría, Altimetría y Vías
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UVP
103,90 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
25.08.2022
Verlag
Editorial Académica EspañolaSeitenzahl
384
Maße (L/B/H)
22/15/2,4 cm
Gewicht
590 g
Sprache
Spanisch
ISBN
978-620-2-23159-6
El proceso de aprendizaje de una ciencia, debe darse desde la concepción del permanente estudio y actualización de conocimientos, que unidos a la práctica producen la sinergia necesaria para llegar a tener la suficiente experticia como profesional de una rama como la Topografía. La presente obra, desarrolla desde la experiencia docente, un compendio completo de los temas fundamentales para la formación del futuro topógrafo y para los profesionales, un documento de apoyo, en la diversidad de aplicaciones de ésta maravillosa área del conocimiento. Se abordan desarrollos completos de la planimetría, altimetría y las aplicaciones topográficas para el diseño y localización de vías, con todos los contenidos temáticos y elementos necesarios, tales como ejercicios desarrollados y propuestos, que le permiten al lector llevar de la mano un aprendizaje autónomo y significativo, de una manera lúdica que cada vez cimientan, aún mejor, sus conocimientos en éstas áreas del saber topográfico.
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