Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
06.04.2021
Verlag
John Wiley & SonsSeitenzahl
288
Maße (L/B/H)
24/16,1/1,9 cm
Gewicht
583 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-78630-687-6
This book provides essential knowledge and culminates with an industrial application of quantum engineering and nanotechnologies. It presents optical systems for measuring at the nanoscale, as well as quantum physics models that describe how a two-state system interacts with its environment. The concept of spin and its derivation from the Dirac equation is also explored, while theoretical foundations and example applications aid in understanding how a quantum gate works. Application of the reliability-based design optimization (RBDO) method of mechanical structures is implemented, in order to ensure reliability of estimates from the measurement of mechanical properties of carbon nanotube structures.
This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master?s students.
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