• Produktbild: Statistical Methods for Materials Science
  • Produktbild: Statistical Methods for Materials Science
- 13%

Statistical Methods for Materials Science The Data Science of Microstructure Characterization

13% sparen

61,99 € UVP 71,90 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Lieferung nach Hause

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.03.2021

Herausgeber

Jeffrey P. Simmons + weitere

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

536

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2,9 cm

Gewicht

999 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-367-78028-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.03.2021

Herausgeber

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

536

Maße (L/B/H)

25,4/17,8/2,9 cm

Gewicht

999 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-367-78028-9

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Die Bewertungen sind nach Format, Anzahl Sterne und Datum sortiert.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen filtern

Die Leseprobe wird geladen.
  • Produktbild: Statistical Methods for Materials Science
  • Produktbild: Statistical Methods for Materials Science
  • 1 Materials Science vs. Data Science 2 Emerging Digital Data Capabilities 3 Cultural Differences 4 Forward Modeling 5 Inverse Problems and Sensing 6 Model-Based Iterative Reconstruction for Electron Tomography 7 Statistical reconstruction and heterogeneity characterization in 3-D biological macromolecular complexes  8 Object Tracking through Image Sequences 9 Grain Boundary Characteristics 10 Interface Science and the Formation of Structure 11 Hierarchical Assembled Structures from Nanoparticles  12 Estimating Orientation Statistics 13 Representation of Stochastic Microstructures 14  Computer Vision for Microstructure Representation 15 Topological Analysis of Local Structure  16 Markov Random Fields for Microstructure Simulation 17 Distance Measures for Microstructures  18 Industrial Applications  19 Anomaly Testing  20 Anomalies in Microstructures 21 Denoising Methods with Applications to Microscopy  22 Compressed Sensing for Imaging Applications 23 Dictionary Methods for Compressed Sensing 24 Sparse Sampling in Microscopy