Advanced VLSI Design and Testability Issues
-
- Hardcover
- Taschenbuch
- eBook ausgewählt
-
Form:Einzelkauf Download
-
Sprache:Englisch
-
eBook Format:ePUB
- PDF 64,49 €
- ePUB 64,49 € ausgewählt
64,49 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
ePUB
Kopierschutz
Ja
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Ja
Erscheinungsdatum
18.08.2020
Herausgeber
Suman Lata Tripathi + weitereVerlag
Taylor & Francis eBooksSeitenzahl
378 (Printausgabe)
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
EAN
9781000168174
This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice