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Thermal Conductivity Measurements in Atomically Thin Materials and Devices

57,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.05.2020

Abbildungen

XV, 50 p. 24 illus., 21 illus. in color.

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

50

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/0,5 cm

Gewicht

119 g

Auflage

20001 Auflage 1st ed. 2020

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-15-5347-9

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.05.2020

Abbildungen

XV, 50 p. 24 illus., 21 illus. in color.

Verlag

Springer Singapore

Seitenzahl

50

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/0,5 cm

Gewicht

119 g

Auflage

20001 Auflage 1st ed. 2020

Sprache

Englisch

ISBN

978-981-15-5347-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Introduction.- Importance of thermal management in modern applications.- Thermal properties of atomically thin materials and devices.- Thermal conductivity measurement methods for nanosheets.- Steady-state measurement methods.- Transient measurement methods.- Use of photothermal effects as a novel thermal conductivity measurement method.- Outlook.