VLSI Design and Test 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
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- Taschenbuch ausgewählt
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer Singapore
- Springer 92,99 €
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Auflage:19001 Auflage 1st edition 2019
92,99 €
UVP
106,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
25.01.2019
Abbildungen
XVIII, 722 p. 711 illus., 324 illus. in color.
Herausgeber
S. Rajaram + weitereVerlag
Springer SingaporeSeitenzahl
722
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/4 cm
Gewicht
1101 g
Auflage
19001 Auflage 1st edition 2019
Sprache
Englisch
ISBN
978-981-13-5949-1
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.
The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.
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