Produktbild: Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.06.2018

Abbildungen

XI, 105 p. 81 illus., 35 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

197 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-80848-2

Beschreibung

Rezension

“Book gives wide perspectives on the technical insights of fundamentals of sources and mitigation strategies of soft error rates in semiconductor memory devices … . a valuable addition to a scientific library, as well as served as good introduction for memory reliability engineers or specialists and   industrials involved in the field of memory device reliability. This book is highly recommended for people who desire a better understanding of the theory and practice of SER and technical considerations in SER mitigations.” (Chong Leong Gan, Microelectronics Reliability, Vol. 74 (81), 2017)

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

15.06.2018

Abbildungen

XI, 105 p. 81 illus., 35 illus. in color.

Verlag

Springer

Seitenzahl

105

Maße (B/H)

15,5/23,5 cm

Gewicht

197 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 2016

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-319-80848-2

Herstelleradresse

Springer Nature Customer Service Center GmbH
Europaplatz 3
69115 Heidelberg
DE
ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation

  • Introduction.- Mitigation of Single Event Effects.- Transmission Gate (TG) Based Soft Error Mitigation Methods.- Single Event Soft Error Mechanisms.- Modeling Single Event Crosstalk Noise in Nanometer Technologies.- Modeling of Single Event Coupling Delay and Speedup Effects.- Single Event Upset Hardening of Interconnects.- Soft-Error Aware Power Optimization.- Dynamic Threshold Technique for Soft Error and Soft Delay Mitigation.