Growth of High Permittivity Dielectrics by High Pressure Sputtering from Metallic Targets
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
13.10.2017
Abbildungen
XXIII, 116 illus., 6 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen
Verlag
SpringerSeitenzahl
164
Maße (L/B/H)
24,1/16/1,6 cm
Gewicht
453 g
Auflage
1st edition 2017
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-319-66606-8
This thesis describes the fabrication of metal-insulator-semiconductor (MIS) structures using very high permittivity dielectrics (based on rare earths) grown by high-pressure sputtering from metallic targets. It demonstrates the possibility of depositing high permittivity materials (GdScO3) by means of high pressure sputtering from metallic targets using in situ plasma oxidation on Si and indium phosphate (InP) substrates. The advantage of this system is the high working pressure, which causes the particles to undergo multiple collisions and become thermalized before reaching the substrate in a pure diffusion process, thus protecting the semiconductor surface from damage. This work presents a unique fabrication using metallic targets and involving a two-step deposition process: a thin metallic film is sputtered in an Ar atmosphere and this film is then plasma oxidized in situ. It also demonstrates the fabrication of GdScO3 on Si with a permittivity value above 30 from metallicGd and Sc targets. Since co-sputtering was not possible, a nanolaminate of these materials was deposited and annealed. The electrical properties of these devices show that the material is highly interesting from a microelectronic integration standpoint.
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