Measurement Technology for Micro-Nanometer Devices
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Produktdetails
Format
Kopierschutz
Ja
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
18.10.2016
Verlag
John Wiley & Sons IncSeitenzahl
344 (Printausgabe)
Dateigröße
24392 KB
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
EAN
9781118717981
* Highlights the advanced research work from industry and academia in micro-nano devices test technology
* Written at both introductory and advanced levels, provides the fundamentals and theories
* Focuses on the measurement techniques for characterizing MEMS/NEMS devices
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