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Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high...

Beschreibung

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Verlag Elsevier Science & Technology
Seitenzahl

358

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.09.2016

Verlag Elsevier Science & Technology
Seitenzahl

358

Maße (L/B/H)

22,9/15,2/2 cm

Gewicht

679 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-12-804812-2

EU-Ansprechpartner

Elsevier B.V.
Radarweg 29
1043 NX Amsterdam
NL
productsafety@elsevier.com

Herstelleradresse

Elsevier Science & Technology
London Wall 125
EC2Y 5AS London
GB
tradeorders@elsevier.com

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  • Produktbild: Hawkes, P: Advances in Imaging and Electron Physics
  • 1. Quantum Entanglement in Photon-Induced Electron Spectroscopy of Atoms and Molecules: Its Generation, Characterization, and Applications2. Voltage Contrast Modes in a Scanning Electron Microscope and Their Application3. A Review of Scanning Electron Microscopy in Near Field Emission Mode