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Produktbild: Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
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Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Mitigating Soft Errors and Process Variations

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2014

Abbildungen

XXII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8510-1

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

28.11.2014

Abbildungen

XXII, 212 p.

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

212

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-8510-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
  • Soft Errors.- Analytical Determination of Radiation-induced Pulse Width in Combinational Circuits.- Analytical Determination of the Radiation-induced Pulse Shape.- Modeling Dynamic Stability of SRAMs in the Presence of Radiation Particle Strikes.- 3D Simulation and Analysis of the Radiation Tolerance of Voltage Scaled Digital Circuits.- Clamping Diode-based Radiation Tolerant Circuit Design Approach.- Split-output-based Radiation Tolerant Circuit Design Approach.- Process Variations.- Sensitizable Statistical Timing Analysis.- A Variation Tolerant Combinational Circuit Design Approach Using Parallel Gates.- Process Variation Tolerant Single-supply True Voltage Level Shifter.- Conclusions and Future Directions.