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Ion Beam Analysis Fundamentals and Applications

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

27.08.2014

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

472

Maße (L/B/H)

24/16,1/3 cm

Gewicht

362 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4398-4638-4

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Erscheinungsdatum

27.08.2014

Verlag

Taylor and Francis

Seitenzahl

472

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Englisch

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978-1-4398-4638-4

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  • Section I—Fundamentals. Overview. Kinematics. Cross Section. Ion Stopping. Backscattering Spectrometry. Elastic Recoil Detection Analysis. Nuclear Reaction Analysis. Particle-Induced X-Ray Emission Analysis. Ion Channeling. Section II—Applications. Thin Film Depth Profiling. Defects Measurements of a Crystalline Solid. Nuclear Energy Research Applications. Art and Archaeology Applications. Biomedical Applications. IBA Software. Appendices.