Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
Produktbild: The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2

The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2

195,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.11.2013

Abbildungen

XVI, 503 p.

Herausgeber

B.E. Deal + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

503

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,8 cm

Gewicht

779 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1993

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-1590-0

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

19.11.2013

Abbildungen

XVI, 503 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

503

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,8 cm

Gewicht

779 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1993

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-1590-0

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)
  • Produktbild: The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2
  • Thermal Oxidation Mechanisms and Modeling: Silicon Oxides and Oxidation; A.M. Stoneham. Novel Oxidation Methods and Characterization: New Approach to Chemically Enhanced Oxidation; R.J. Jaccodine. Deposition and Properties of SiO2: Low Temperature Synthesis and Characterization of Silicon Dioxide Films; G.S. Chakravarthy, et al. Chemical Properties of Si Surfaces Related to Oxidation and Oxide Deposition: Pre-Gate Oxide Si Surface Control; M. Morita, T. Ohmi. Chemical, Structural, and Microroughness Effects at the SiSiO2 Interface: Dependence of Surface Microroughness on Types of Silicon Substrates; T. Ohmi, et al. Novel Structures, Processes, and Phenomena: Properties of Simox and Related Systems; S. Cristoloveanu, T. Ouisse. Defects and Hot-Carrier Induced Damage in SiSiO2 Systems: Radiation and Hydrogen Induced Effects in Silicon-Silicon Dioxide Systems. 56 additional articles. Index.