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Produktbild: Microanalysis of Solids

Microanalysis of Solids

195,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

30.05.2013

Abbildungen

XIV, 460 p.

Herausgeber

B.G. Yacobi + weitere

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

460

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,6 cm

Gewicht

715 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-1494-1

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

30.05.2013

Abbildungen

XIV, 460 p.

Herausgeber

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

460

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/2,6 cm

Gewicht

715 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4899-1494-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • I. Introduction.- 1. An Introduction to Microanalysis of Solids.- II. Electron Beam Techniques.- 2. Scanning Electron Microscopy.- 3. Transmission Electron Microscopy.- 4. Auger Electron Spectroscopy.- III. Ion Beam Techniques.- 5. Secondary Ion Mass Spectrometry.- 6. Applications of Megaelectron-Volt Ion Beams in Materials Analysis.- IV. Photon Beam Techniques.- 7. Confocal Microscopy.- 8. X-ray Microscopy.- 9. X-ray Photoemission Spectroscopy.- 10. Laser Ionization Mass Spectrometry.- 11. Microellipsometry.- V. Acoustic Wave Excitation.- 12. Scanning Acoustic Microscopy.- VI. Tunneling of Electrons and Scanning Probe Microscopies.- 13. Field Emission, Field Ion Microscopy, and the Atom Probe.- 14. Scanning Probe Microscopy.