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  • Produktbild: Applied RHEED
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Band 154

Applied RHEED Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth

Aus der Reihe Springer Tracts in Modern Physics

49,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.11.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

220

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-15614-8

Beschreibung

Rezension

Anyone interested in L.-M. Peng's chapter on RHEED will want to know that an entire volume on the subject has been written by W. Braun (9). This is a substantial work, full of practical detail...

Ultramicroscopy, 2001/87

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.11.2013

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

220

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,3 cm

Gewicht

365 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st edition 1999

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-662-15614-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • MBE-grown semiconductor interfaces.- Reflection high-energy electron diffraction (RHEED).- RHEED oscillations.- Semikinematical simulations of RHEED patterns.- Kikuchi lines.- RHEED with rotating substrates.- Reconstruction-induced phase shifts of RHEED oscillations.- Energy loss spectroscopy during growth.- Phase shifts: Models.- Applications of reconstruction-induced phase shifts.- Closing remarks.