Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
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- Hardcover
- Taschenbuch
- eBook ausgewählt
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Form:Einzelkauf Download
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Sprache:Englisch
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Auflage:3rd ed. 2008
93,08 €
inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
04.11.2007
Verlag
SpringerSeitenzahl
758 (Printausgabe)
Dateigröße
47949 KB
Auflage
3rd ed. 2008
Sprache
Englisch
EAN
9783540738862
This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
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