Merkzettel Warenkorb
Produktbild: Noncontact Atomic Force Microscopy

Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2

Aus der Reihe NanoScience and Technology

223,63 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

Family Sharing

Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

18.09.2009

Herausgeber

Seizo Morita + weitere

Verlag

Springer

Seitenzahl

401 (Printausgabe)

Dateigröße

16778 KB

Sprache

Englisch

EAN

9783642014956

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

eBooks im PDF-Format haben eine festgelegte Seitengröße und eignen sich daher nur bedingt zum Lesen auf einem tolino eReader oder Smartphone. Für den vollen Lesegenuss empfehlen wir Ihnen bei PDF-eBooks die Verwendung eines Tablets oder Computers.

Kopierschutz

Nein

Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie, allen sonstigen eReadern und am PC lesen. Das eBook ist nicht kopiergeschützt und kann ein personalisiertes Wasserzeichen enthalten. Weitere Hinweise zum Lesen von eBooks mit einem personalisierten Wasserzeichen finden Sie unter Hilfe/Downloads.

Family Sharing

Nein

Mit Family Sharing können Sie eBooks innerhalb Ihrer Familie (max. sechs Mitglieder im gleichen Haushalt) teilen. Sie entscheiden selbst, welches Buch Sie mit welchem Familienmitglied teilen möchten. Auch das parallele Lesen durch verschiedene Familienmitglieder ist durch Family Sharing möglich. Um eBooks zu teilen oder geteilt zu bekommen, muss jedes Familienmitglied ein Konto bei Thalia oder einem anderen tolino-Buchhändler haben. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Family-Sharing.

Text-to-Speech

Nein

Bedeutet Ihnen Stimme mehr als Text? Mit der Funktion Text-to-Speech können Sie sich im tolino webReader und in der aktuellen Thalia – Lesen & Hören App das eBook vorlesen lassen. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Text-to-Speech.

Barrierefreiheit
  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

Erscheinungsdatum

18.09.2009

Herausgeber

Verlag

Springer

Seitenzahl

401 (Printausgabe)

Dateigröße

16778 KB

Sprache

Englisch

EAN

9783642014956

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Die Bewertungen sind nach Format, Anzahl Sterne und Datum sortiert.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen filtern

Weitere Artikel findest du in
  • Produktbild: Noncontact Atomic Force Microscopy
  • Introduction.- Method for Precise Force Measurements.- Force Spectroscopy on Semiconductors.- Tip-sample Interactions as a Function of Distance on Insulating Surfaces.- Imaging and Force Spectroscopy on Layered Materials.- Principles and Applications of the qPlus Sensor.- Atomic Resolution Imaging and Site-Specific Spectroscopy on Model Catalyst.- Atom Manipulation on Semiconductor Surfaces.- Atomic Manipulation on Metal Surfaces.- Atom Manipulation on Insulator Surfaces.- Simulations on Atomic Manipulation on Semiconductor Surfaces.- Multi-Scale Modeling of NC-AFM Imaging and Controlling Atomic Dynamics at Insulating Surfaces.- Magnetic Exchange Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Biological Applications of FM-AFM for Liquid Environment.- Low Amplitude High-Frequency Imaging with Deflection and Torsion of the Cantilever in Vacuum and Liquid.- Cantilever Dynamics and Nonlinear Effects in Atomic Force Microscopy.-