Produktbild: Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines

Test Pattern Generation using Boolean Proof Engines

96,29 €

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

Family Sharing

Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

22.04.2009

Verlag

Springer Netherlands

Seitenzahl

192 (Printausgabe)

Dateigröße

5501 KB

Sprache

Englisch

EAN

9789048123605

Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

eBooks im PDF-Format haben eine festgelegte Seitengröße und eignen sich daher nur bedingt zum Lesen auf einem tolino eReader oder Smartphone. Für den vollen Lesegenuss empfehlen wir Ihnen bei PDF-eBooks die Verwendung eines Tablets oder Computers.

Kopierschutz

Nein

Dieses eBook können Sie uneingeschränkt auf allen Geräten der tolino Familie, allen sonstigen eReadern und am PC lesen. Das eBook ist nicht kopiergeschützt und kann ein personalisiertes Wasserzeichen enthalten. Weitere Hinweise zum Lesen von eBooks mit einem personalisierten Wasserzeichen finden Sie unter Hilfe/Downloads.

Family Sharing

Nein

Mit Family Sharing können Sie eBooks innerhalb Ihrer Familie (max. sechs Mitglieder im gleichen Haushalt) teilen. Sie entscheiden selbst, welches Buch Sie mit welchem Familienmitglied teilen möchten. Auch das parallele Lesen durch verschiedene Familienmitglieder ist durch Family Sharing möglich. Um eBooks zu teilen oder geteilt zu bekommen, muss jedes Familienmitglied ein Konto bei Thalia oder einem anderen tolino-Buchhändler haben. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Family-Sharing.

Text-to-Speech

Nein

Bedeutet Ihnen Stimme mehr als Text? Mit der Funktion Text-to-Speech können Sie sich im tolino webReader und in der aktuellen Thalia – Lesen & Hören App das eBook vorlesen lassen. Weitere Informationen finden Sie unter Hilfe/Text-to-Speech.

Barrierefreiheit

  • keine Information zur Barrierefreiheit bekannt

Erscheinungsdatum

22.04.2009

Verlag

Springer Netherlands

Seitenzahl

192 (Printausgabe)

Dateigröße

5501 KB

Sprache

Englisch

EAN

9789048123605

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  • 1 Introduction.
    2 Preliminaries. 2.1 Circuits. 2.2 Fault Models. 2.3 Simple ATPG Framework. 2.4 Classical ATPG Algorithms. 2.5 Benchmarking.
    3 Boolean Satisfiability. 3.1 SAT Solver. 3.2 Advances in SAT.3.3 Circuit-to-CNF Conversion. 3.4 Circuit-oriented SAT.
    4 SAT-based ATPG. 4.1 Basic Problem Transformation. 4.2 Structural Information. 4.3 Experimental Results. 4.4 Summary.
    5 Learning Techniques. 5.1 Introductory Example. 5.2 Concepts for Reusing Learned Information. 5.3 Heuristics for ATPG. 5.4 Experimental Results. 5.5 Summary.
    6 Multiple-valued Logic. 6.1 Four-Valued Logic. 6.2 Multi-input Gates. 6.3 Experimental Results. 6.4 Summary.
    7 Improved Circuit-to-CNF Conversion. 7.1 Hybrid Logic. 7.2 Incremental Instance Generation. 7.3 Experimental Results. 7.4 Summary.
    8 Branching Strategies. 8.1 Standard Heuristics of SAT Solvers. 8.2 Decision Strategies. 8.3 Experimental Results. 8.4 Summary.
    9 Integration into Industrial Flow. 9.1 Industrial Environment. 9.2 Integration of SAT-based ATPG. 9.3 Test Pattern Compactness. 9.4 Experimental Results. 9.5 Summary.
    10 Delay Faults. 10.1 Transition Delay. 10.2 Path Delay. 10.3 Encoding Efficiency for Path Delay Faults. 10.4 Incremental Approach. 10.5 Experimental Results. 10.6 Summary.
    11 Summary and Outlook.
    Bibliography. Index.