Vor Ort
Merkzettel Warenkorb
  • Produktbild: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
  • Produktbild: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique

Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil

54,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1960

Abbildungen

851 S. 1304 Abb., 2 Abb. in Farbe.

Herausgeber

W. Bargmann + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

851

Maße (L/B/H)

27,9/21/4,8 cm

Gewicht

2108 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1960

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-49481-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1960

Abbildungen

851 S. 1304 Abb., 2 Abb. in Farbe.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

851

Maße (L/B/H)

27,9/21/4,8 cm

Gewicht

2108 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1960

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-642-49481-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: GPSR Kontakt

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

Weitere Artikel findest du in
  • Produktbild: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
  • Produktbild: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
  • Eröffnungs-Ansprache.- Opening remarks.- Festvortrag.- Geschichte des Elektrons.- A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren.- 1. Kathoden.- 2. Linsen und Ablenksysteme.- 3. Objekteinrichtungen.- 4. Bildaufzeichnungsverfahren.- 5. Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze).- 6. Stereoaufnahme.- 7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung.- 8. Durchstrahlungsmikroskope.- 9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie.- 10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie.- 11. Röntgen-Projektionsmikroskopie.- 12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie.- 13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild.- 1. Streuung am Objekt und Bildkontrast.- 2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden.- 3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moirés.- C. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik.- 1. Trägerfolien.- 2. Dünne Objektschichten.- 3. Oberflächen.- 4. Aufdampf- und Abdruckverfahren.- D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie).- 1. Kristallgitter-Strukturen.- 2. Kristallwachstum.- 3. Kristalloberflächen.- 4. Kondensierte Schichten.- 5. Kristallbau-Fehler und Versetzungen.- 6. Umwandlungs- und Ausscheidungsvorgänge in Metallen.- 7. Natürliche und künstliche technologische Fasern.- 8. Verschiedene Produkte der chemischen Technik.- 9. Staube und Rauche.- 10. Spuren-Nachweis.- E. Feldemissionsmikroskopie*.- 1. Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberflächen.- 2. Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden.- 3. Feldionen-Mikroskopie.