Produktbild: Fault detection techniques using current signature analysis methods
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Fault detection techniques using current signature analysis methods Optimization of Fast Fourier Transform (FFT) algorithm and Wavelet Transform (WT) based multi resolution analysis

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.12.2012

Verlag

LAP LAMBERT Academic Publishing

Seitenzahl

104

Maße (L/B/H)

22/15/0,7 cm

Gewicht

173 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-8465-5534-7

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

23.12.2012

Verlag

LAP LAMBERT Academic Publishing

Seitenzahl

104

Maße (L/B/H)

22/15/0,7 cm

Gewicht

173 g

Auflage

1. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-8465-5534-7

Herstelleradresse

VDM Verlag
Dudweiler Landstraße 99
66123 Saarbrücken
DE

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