Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
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- Deutsch ausgewählt
74,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
06.12.2011
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
302
Maße (L/B/H)
24,4/17/1,8 cm
Gewicht
548 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 1986
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-642-70178-8
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