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  • Produktbild: Very Large Scale Integration (VLSI)
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Band 5

Very Large Scale Integration (VLSI) Fundamentals and Applications

Aus der Reihe Springer Series in Electronics and Photonics

97,99 €

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

22.04.2012

Abbildungen

XII, 304 p.

Herausgeber

D.F. Barbe

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,8 cm

Gewicht

487 g

Auflage

Second Edition 1982

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-88642-3

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

22.04.2012

Abbildungen

XII, 304 p.

Herausgeber

D.F. Barbe

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,8 cm

Gewicht

487 g

Auflage

Second Edition 1982

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-88642-3

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • 1. Introduction.- 1.1 Outlook.- 1.2 Scope of this Volume.- 1.3 Summary.- References.- 2. VLSI Device Fundamentals.- 2.1 Fundamentals of VLSI Device Improvements.- 2.2 Problem Areas for VLSIC’s.- 2.3 Small-Geometry MOS Anomalies.- 2.4 VLSIC Projections.- 2.5 Conclusions.- References.- 3. Advanced Lithography.- 3.1 Optical Lithography.- 3.2 Electron Lithography.- 3.3 X-Ray Lithography.- 3.4 Ion Lithography.- 3.5 Conclusion.- References.- 4. Computer Aided Design for VLSI.- 4.1 What is Computer Aided Design?.- 4.2 History.- 4.3 State-of-the-Art.- 4.4 Perspective.- 4.5 Management of Complexity.- 4.6 Structured Design.- 4.7 Functional Design Tools.- 4.8 Physical Design Tools.- 4.9 Design Management.- 4.10 Conclusion.- References.- 5. GaAs Digital Integrated Circuits for Ultra High Speed LSI/VLSI.- 5.1 Performance Advantages Expected for GaAs ICs.- 5.2 Circuit Approaches for GaAs Digital Logic ICs.- 5.3 GaAs Integrated Circuits: Fabrication Technology.- 5.4 Performance Results for GaAs Digital ICs.- 5.5 Summary, Conclusions and Projections.- Appendix: Nonlinear Switching Analysis for PD?d.- Dependence on ?d and FET K-Value.- References.- 6. VLSI Architecture.- 6.1 VLSI Technology Basis.- 6.2 VLSI Device Architecture.- 6.3 VLSI System Architecture.- 6.4 VLSI Architecture Case Study.- 6.5 Conclusion.- References.- 7. VLSI Applications and Testing.- 7.1 VLSI Applications.- 7.2 VLSI Testing.- 7.3 Conclusion.- References.- 8. VHSIC Technology and Systems.- 8.1 IC Progress.- 8.2 Throughput Capacity.- 8.3 Defense Systems.- 8.4 The VHSIC Program.- 8.5 Example Brassboard Systems.- 8.6 Scaling to Smaller Dimensions: Benefits and Barriers.- 8.7 Computer-Aided Design.- 8.8 Testing.- 8.9 Substrates.- 8.10 Summary.- References.- 9. VLSI in Other Countries.- 9.1 Past Major Semiconductor Programs.- 9.2 Present National Semiconductor Programs.- 9.3 Future Prospects.- References.- Additional References.- Additional References.