Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2
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- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
- eBook
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Sprache:Englisch
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Verlag:Springer Berlin
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Auflage:2009
203,99 €
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
14.03.2012
Abbildungen
XVIII, 105 illus., 77 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen
Herausgeber
Seizo Morita + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
401
Maße (L/B/H)
23,5/15,5/2,3 cm
Gewicht
640 g
Auflage
2009
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-642-26070-4
Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.
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