Baur, A: Charakterisierung von HF-Transistoren
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
01.06.2011
Verlag
VDMSeitenzahl
100
Maße (L/B/H)
22/15/0,6 cm
Gewicht
165 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-639-36087-5
Die Simulationsprogramme für Schaltungsaufbauten werden immer besser. Die Zuverlässigkeit der Simulation wird dabei durch die Genauigkeit der Element-Modelle bestimmt. Dieses Buch beschreibt die Messmethoden SOLT, TRL und Deembedding zur Modellbildung von HF-Kleinsignal-Transistoren. In einem angewandten Beispiel werden diese Methoden miteinander verglichen. Das Thema richtet sich an Ingenieure und Techniker, welche sich in die Theorie der Modellbildung vertiefen und sie in der Praxis einsetzen wollen.
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