Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance
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Beschreibung
This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing the root causes behind these errors, their efficient detection and characterization, and finally fault tolerant design techniques at various layers of abstraction (from transistor to architecture) to improve...
Produktdetails
| Einband |
Gebundene Ausgabe |
|---|---|
| Erscheinungsdatum |
06.01.2016 |
| Verlag | Springer New York |
| Seitenzahl |
300 |
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