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Physical Limitations of Semiconductor Devices

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

27.10.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

330

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,9 cm

Gewicht

521 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st edition 2008

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-4505-1

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Taschenbuch

Erscheinungsdatum

27.10.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

330

Maße (L/B/H)

23,5/15,5/1,9 cm

Gewicht

521 g

Auflage

Softcover reprint of hardcover 1st edition 2008

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-4505-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: [email protected]

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  • Failures of Semiconductor Device.- Theoretical Basis of Current Instability in Transistor Structures.- Thermal Instability Mechanism.- Isothermal Current Instability in Silicon BJT and MOSFETs.- Isothermal Instability in Compound Semiconductor Devices.- Degradation Instabilities.- Conductivity Modulation in ESD devices.- Physical Approach to Reliability.