On-Line Testing for VLSI
-
- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
-
Sprache:Englisch
92,99 €
UVP
106,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
06.12.2010
Abbildungen
IV, 160 p.
Herausgeber
Michael Nicolaidis + weitereVerlag
Springer UsSeitenzahl
160
Maße (L/B/H)
25,4/17,8/1 cm
Gewicht
322 g
Auflage
Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1998
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4419-5033-8
On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops . Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties.
On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.
Kurze Frage zu unserer Seite
Vielen Dank für dein Feedback
Wir nutzen dein Feedback, um unsere Produktseiten zu verbessern. Bitte habe Verständnis, dass wir dir keine Rückmeldung geben können. Falls du Kontakt mit uns aufnehmen möchtest, kannst du dich aber gerne an unseren Kund*innenservice wenden.
zum Kundenservice