Applied Scanning Probe Methods I
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- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
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Sprache:Englisch
105,99 €
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors,...
Produktdetails
| Einband |
Taschenbuch |
|---|---|
| Erscheinungsdatum |
06.12.2010 |
| Abbildungen |
XX, 476 p. |
| Herausgeber | Bharat Bhushan + weitere |
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